アナテルA2000XPが、実績ある超低濃度TOC測定性能を備えて再登場

半導体製造におけるUPWモニタリングでは、TOC測定値の信頼性が十分でない場合、水処理システムだけでなく製造工程全体に影響を及ぼす可能性があります。疑わしい測定値は、追加の検査や水の浪費、製造工程に関わる意思決定の遅延、そして、本来であれば回避できるはずのダウンタイムの原因になりえます。

そのため、Hach^® は、現在の製造現場のニーズに応える次世代の超低濃度TOCモニタリング技術を搭載したAnatelプラットフォームを新たに展開します。

近日発売予定の Anatel A2000XP 超低濃度 TOC アナライザーは、微量汚染を早期に検出する能力を提供し、超低濃度 TOC 測定の信頼性を維持するとともに、既存のワークフローを妨げることなく従来のアナライザーを刷新するために開発されました。

Anatel A2000XPが製造工場にもたらすメリット：

信頼できる測定

• アナテル A2000XP は、完全酸化技術を採用した、実績あるストップフロー測定法により、0.02 ppb の TOC 検出限界を実現しました。さらに、シフトや稼働条件の変化にかかわらず一貫した測定結果が得られるため、測定値のずれや誤警報によって発生する追加検査が減少します。

メンテナンスの簡素化

• 現場で校正を行うことができます。メンテナンスの負担が軽減され、製造工程にアナライザーが欠かせない場合でも、稼働を続けることができます。